Тестовые образцы

Follow NanoScanTech on Twitter

Si/SiO2 test grating. AFM Image. Contact mode. Topography.

Vanadium test grating NSpec (confocal image)

Si/SiO2 test grating,  laser confocal image

Test grating. AFM image. Semi-contact mode. Topography.

 

Si/SiO2 тестовая  решетка

Si/SiO2 тестовая  решетка

Тестовая кремниевая решетка. АСМ изображения. Изображения получены с помощью сканирующего зондового микроскопа Certus Standard в режиме атомно-силового микроскопа. Контактный режим сканирования. Топография.

Правое нижнее изображение - профиль сечения вдоль элементов решётки.

Тестовые кремниевые решетки применяются для настройки и калибровки сканирующих зондовых микроскопов. Их получают различными методами. Однако ,самый распространенный - литография. С помощью тестовой решетки можно откалибровать сканирующий зондовый микроскоп, так что бы измеряемые им параметры соответствавали действительным размерам объектов по осям XYZ. Кроме того на тестовых решетках проверяют линейность сканирующей системы.



Si/SiO2 тестовая  решетка

Ванадиевая тестовая  решетка Gwyddion (конфокальное лазерное изображение)

Ванадиевая тестовая  решетка NSpec (конфокальное лазерное изображение)

Ванадиевая тестовая решётка.  Изображения получены на комплексе Centaur в режиме лазерного конфокального микроскопа.

Ванадиевые тестовые решетки содержат ромбические элементы выступающие на поверхности. Такие решетки используют для калибровки конфокальных микроскопов.

Si/SiO2 тестовая  решетка, конфокальное лазерное изображение

Si/SiO2 тестовая  решетка, конфокальное рамановское изображение

Кремниевая тестовая решётка.  Изображения получены на комплексе Centaur в режиме лазерного конфокального микроскопа (левое) и конфокального рамановского микроскопа (правое). Изображения получены одновременно за одно сканирование.

100х100 точек. Размер поля сканирования 100х100 μm.

Кремниевая тестовая решетка и балка кантилевера.

Si/SiO2 тестовая решетка и зонд.

Изображение получено с помощью видеомикроскопа СЗМ Certus Standard.

Кремниевая тестовая решетка. АСМ изображение. Полу-контактный режим. Топография. Кремниевая тестовая решетка. АСМ изображение. Полу-контактный режим сканирования. Изображение в режиме "Фазы"
Тестовая кремниевая решетка. АСМ изображение. Полу-контактный режим сканирования. Топография 3D Кремниевая тестовая решетка. Полу-контактный режим сканирования. Топография и сечение.
Профиль сечения АСМ изображения кремниевой тестовой решетки.
Si/SiO2 тестовая решетка. АСМ изображение. Изображения получены с помощью сканирующего зондового микроскопа Certus Standard в режиме атомно-силового микроскопа. Полу-контактный режим сканирования. Размер изображения 60х60 μm. 300х300 точек.

Левое верхнее изображение - топография. Правое верхнее изображение - "фаза".

Левое нижнее изображение - топография 3D. Правое нижнее изображение - топография, сечение и профиль в сделанном сечении.

Кремниевая тестовая решетка. АСМ изображение. Полу-контактный режим. Топография. Кремниевая тестовая решетка. АСМ изображение. Полу-контактный режим сканирования. Изображение в режиме "Фазы"
Тестовая кремниевая решетка. АСМ изображение. Полу-контактный режим сканирования. Топография 3D Кремниевая тестовая решетка. Полу-контактный режим сканирования. Топография и сечение.
Профиль сечения АСМ изображения кремниевой тестовой решетки.

Si/SiO2 тестовая решетка. АСМ изображение. Изображения получены с помощью сканирующего зондового микроскопа Certus Standard в режиме атомно-силового микроскопа. Полу-контактный режим сканирования. Размер изображения 30х30 μm. 600х600 точек.

Левое верхнее изображение - топография. Правое верхнее изображение - "фаза".

Левое нижнее изображение - топография 3D. Правое нижнее изображение - топография, сечение и профиль в сделанном сечении.

Тестовая ванадиевая решетка. Ближнепольное оптическое изображение. Тестовая ванадиевая решетка. АСМ изображение. Топография.

Ванадиевая тестовая решетка.

Левое изображение - ближнепольное оптическое изображение (NSOM/SNOM).

Правое верхнее изображение - АСМ изображение, топография.

Правое нижнее изображение - АСМ изображение, топография 3D.

Изображения получены одновременно с помощью сканирующего зондового микроскопа Certus NSOM O. Проходящий свет.

Размер изображения 50х50 μm. 256х256 точек.

Тестовая ванадиевая решетка. АСМ изображение. Топография 3D.

 

ДНК на слюде.

Статья "Биологические образцы" Галерея Статья  "ВОПГ"

Высоко ориентированный  пиролитический графит

 

 

Нано Скан Технология

доступные инновации

Si/SiO2 тестовая решетка. АСМ изображение. Изображения получены с помощью сканирующего зондового микроскопа Certus Standard в режиме атомно-силового микроскопа. Полуконтактный режим сканирования. Размер изображения 60х60 μm. 300х300 точек.

Левое верхнее изображение - топография. Правое верхнее изображение - "фаза".

Левое нижнее изображение - топография 3D. Правое нижнее изображение - топография, сечение и профиль в сделанном сечении.