Режим быстрого сканирования на атомно-силовом микроскопе

Follow NanoScanTech on Twitter

Видиоизображение процесса быстрого сканирования углеродных нанотрубок (УНТ).

Полуконтактный режим сканирования. Топография.

Резонансная частота зондов - 325 kHz.

Скорость сканирования 10 линий в секунду.

Изображения получены на сканирующем зондовом микроскопе Certus Standard в режиме атомно-силового микроскопа.

Образец представлен профессором Неволиным В.К. (МИЭТ) www.nanotube.ru .