Фосфид индия (InP) на сапфировой подложке

Follow NanoScanTech on Twitter
1_h1 h4 h6 h8 h12
30x30 μm 10x10 μm 1.5x1.5 μm 0.75x0.75 μm 0.4x0.4 μm
h13 h15 h17 h18 h19
25x25 μm 5x5 μm 1.3x1.3 μm 1x1 μm 0.5x0.5 μm

 

 

Фосфид индия (InP) на сапфировой подложке. АСМ изображение. Полу-контактный режим сканирования. Топография.

Фосфид индия (InP) на сапфировой подложке. АСМ изображение. Полу-контактный режим сканирования. Изображение в режиме фазы.

Фосфид индия (InP) на сапфировой подложке. АСМ изображение. Полу-контактный режим сканирования. Топография 3D.

Фосфид индия (InP) на сапфировой подложке. АСМ изображение. Полу-контактный режим сканирования. Топография и произвольное сечение.

Фосфид индия (InP) на сапфировой подложке. АСМ изображение. Полу-контактный режим сканирования. Профиль в выбранном сечении.

Фосфид индия (InP) на сапфировой подложке. АСМ изображения. Полу-контактный режим сканирования. Изображения получены на сканирующем зондовом микроскопе Certus Standard в режиме атомно-силового микроскопа.

Размер изображений 30х30 μм. 500х500 точек.

Верхнее левое изображение - топография. Верхнее правое изображение - изображение в режиме фазы.

Нижнее левое изображение - топография 3D. Нижнее правое изображение - топографие и произвольное сечение.

Нижнее изображение - профиль в выбранном сечении.

Фосфид индия (InP) на сапфировой подложке. АСМ изображение. Полу-контактный режим сканирования. Топография.

Фосфид индия (InP) на сапфировой подложке. АСМ изображение. Полу-контактный режим сканирования. Изображение в режиме фазы.

Фосфид индия (InP) на сапфировой подложке. АСМ изображение. Полу-контактный режим сканирования. Топография 3D.

Фосфид индия (InP) на сапфировой подложке. АСМ изображение. Полу-контактный режим сканирования. Топография и произвольное сечение.

Фосфид индия (InP) на сапфировой подложке. АСМ изображение. Полу-контактный режим сканирования. Профиль в выбранном сечении.

Фосфид индия (InP) на сапфировой подложке. АСМ изображения. Полу-контактный режим сканирования. Изображения получены на сканирующем зондовом микроскопе Certus Standard в режиме атомно-силового микроскопа.

Размер изображений 15х15 μм. 500х500 точек.

Верхнее левое изображение - топография. Верхнее правое изображение - изображение в режиме фазы.

Нижнее левое изображение - топография 3D. Нижнее правое изображение - топографие и произвольное сечение.

Нижнее изображение - профиль в выбранном сечении.
Фосфид индия (InP) на сапфировой подложке. АСМ изображение. Полу-контактный режим сканирования. Топография. Фосфид индия (InP) на сапфировой подложке. АСМ изображение. Полу-контактный режим сканирования. Изображение в режиме фазы.
Фосфид индия (InP) на сапфировой подложке. АСМ изображение. Полу-контактный режим сканирования. Топография 3D. Фосфид индия (InP) на сапфировой подложке. АСМ изображение. Полу-контактный режим сканирования. Топография и произвольное сечение.
Фосфид индия (InP) на сапфировой подложке. АСМ изображение. Полу-контактный режим сканирования. Профиль в выбранном сечении.

Фосфид индия (InP) на сапфировой подложке. АСМ изображения. Полу-контактный режим сканирования. Изображения получены на сканирующем зондовом микроскопе Certus Standard в режиме атомно-силового микроскопа.

Размер изображений 10х10 μм. 1000х1000 точек.

Верхнее левое изображение - топография. Верхнее правое изображение - изображение в режиме фазы.

Нижнее левое изображение - топография 3D. Нижнее правое изображение - топографие и произвольное сечение.

Нижнее изображение - профиль в выбранном сечении.
Фосфид индия (InP) на сапфировой подложке. АСМ изображение. Полу-контактный режим сканирования. Топография. Фосфид индия (InP) на сапфировой подложке. АСМ изображение. Полу-контактный режим сканирования. Изображение в режиме фазы.
Фосфид индия (InP) на сапфировой подложке. АСМ изображение. Полу-контактный режим сканирования. Топография 3D. Фосфид индия (InP) на сапфировой подложке. АСМ изображение. Полу-контактный режим сканирования. Топография и произвольное сечение.
Фосфид индия (InP) на сапфировой подложке. АСМ изображение. Полу-контактный режим сканирования. Профиль в выбранном сечении.

Фосфид индия (InP) на сапфировой подложке. АСМ изображения. Полу-контактный режим сканирования. Изображения получены на сканирующем зондовом микроскопе Certus Standard в режиме атомно-силового микроскопа.

Размер изображений 5х5 μм. 1000х1000 точек.

Верхнее левое изображение - топография. Верхнее правое изображение - изображение в режиме фазы.

Нижнее левое изображение - топография 3D. Нижнее правое изображение - топографие и произвольное сечение.

Нижнее изображение - профиль в выбранном сечении.
Фосфид индия (InP) на сапфировой подложке. АСМ изображение. Полу-контактный режим сканирования. Топография. Фосфид индия (InP) на сапфировой подложке. АСМ изображение. Полу-контактный режим сканирования. Изображение в режиме фазы.
Фосфид индия (InP) на сапфировой подложке. АСМ изображение. Полу-контактный режим сканирования. Топография 3D. Фосфид индия (InP) на сапфировой подложке. АСМ изображение. Полу-контактный режим сканирования. Топография и произвольное сечение.
Фосфид индия (InP) на сапфировой подложке. АСМ изображение. Полу-контактный режим сканирования. Профиль в выбранном сечении.

Фосфид индия (InP) на сапфировой подложке. АСМ изображения. Полу-контактный режим сканирования. Изображения получены на сканирующем зондовом микроскопе Certus Standard в режиме атомно-силового микроскопа.

Размер изображений 1,5х1,5 μм. 300х300 точек.

Верхнее левое изображение - топография. Верхнее правое изображение - изображение в режиме фазы.

Нижнее левое изображение - топография 3D. Нижнее правое изображение - топографие и произвольное сечение.

Нижнее изображение - профиль в выбранном сечении.
Фосфид индия (InP) на сапфировой подложке. АСМ изображение. Полу-контактный режим сканирования. Топография. Фосфид индия (InP) на сапфировой подложке. АСМ изображение. Полу-контактный режим сканирования. Изображение в режиме фазы.
Фосфид индия (InP) на сапфировой подложке. АСМ изображение. Полу-контактный режим сканирования. Топография 3D. Фосфид индия (InP) на сапфировой подложке. АСМ изображение. Полу-контактный режим сканирования. Топография и произвольное сечение.
Фосфид индия (InP) на сапфировой подложке. АСМ изображение. Полу-контактный режим сканирования. Профиль в выбранном сечении.

Фосфид индия (InP) на сапфировой подложке. АСМ изображения. Полу-контактный режим сканирования. Изображения получены на сканирующем зондовом микроскопе Certus Standard в режиме атомно-силового микроскопа.

Размер изображений 0.7х0.7 μм. 200х200 точек.

Верхнее левое изображение - топография. Верхнее правое изображение - изображение в режиме фазы.

Нижнее левое изображение - топография 3D. Нижнее правое изображение - топографие и произвольное сечение.

Нижнее изображение - профиль в выбранном сечении.
Фосфид индия (InP) на сапфировой подложке. АСМ изображение. Полу-контактный режим сканирования. Топография. Фосфид индия (InP) на сапфировой подложке. АСМ изображение. Полу-контактный режим сканирования. Изображение в режиме фазы.
Фосфид индия (InP) на сапфировой подложке. АСМ изображение. Полу-контактный режим сканирования. Топография 3D. Фосфид индия (InP) на сапфировой подложке. АСМ изображение. Полу-контактный режим сканирования. Топография и произвольное сечение.
Фосфид индия (InP) на сапфировой подложке. АСМ изображение. Полу-контактный режим сканирования. Профиль в выбранном сечении.

Фосфид индия (InP) на сапфировой подложке. АСМ изображения. Полу-контактный режим сканирования. Изображения получены на сканирующем зондовом микроскопе Certus Standard в режиме атомно-силового микроскопа.

Размер изображений 0.5х0.5 μм. 100х100 точек.

Верхнее левое изображение - топография. Верхнее правое изображение - изображение в режиме фазы.

Нижнее левое изображение - топография 3D. Нижнее правое изображение - топографие и произвольное сечение.

Нижнее изображение - профиль в выбранном сечении.
Фосфид индия (InP) на сапфировой подложке. АСМ изображение. Полу-контактный режим сканирования. Топография. Фосфид индия (InP) на сапфировой подложке. АСМ изображение. Полу-контактный режим сканирования. Изображение в режиме фазы.
Фосфид индия (InP) на сапфировой подложке. АСМ изображение. Полу-контактный режим сканирования. Топография 3D. Фосфид индия (InP) на сапфировой подложке. АСМ изображение. Полу-контактный режим сканирования. Топография и произвольное сечение.
Фосфид индия (InP) на сапфировой подложке. АСМ изображение. Полу-контактный режим сканирования. Профиль в выбранном сечении.

Фосфид индия (InP) на сапфировой подложке. АСМ изображения. Полу-контактный режим сканирования. Изображения получены на сканирующем зондовом микроскопе Certus Standard в режиме атомно-силового микроскопа.

Размер изображений 0.4х0.4 μм. 200х200 точек.

Верхнее левое изображение - топография. Верхнее правое изображение - изображение в режиме фазы.

Нижнее левое изображение - топография 3D. Нижнее правое изображение - топографие и произвольное сечение.

Нижнее изображение - профиль в выбранном сечении.
Фосфид индия (InP) на сапфировой подложке. АСМ изображение. Полу-контактный режим сканирования. Топография. Фосфид индия (InP) на сапфировой подложке. АСМ изображение. Полу-контактный режим сканирования. Изображение в режиме фазы.
Фосфид индия (InP) на сапфировой подложке. АСМ изображение. Полу-контактный режим сканирования. Топография 3D. Фосфид индия (InP) на сапфировой подложке. АСМ изображение. Полу-контактный режим сканирования. Топография и произвольное сечение.
Фосфид индия (InP) на сапфировой подложке. АСМ изображение. Полу-контактный режим сканирования. Профиль в выбранном сечении.

Фосфид индия (InP) на сапфировой подложке. АСМ изображения. Полу-контактный режим сканирования. Изображения получены на сканирующем зондовом микроскопе Certus Standard в режиме атомно-силового микроскопа.

Размер изображений 25х25 μм. 835х835 точек.

Верхнее левое изображение - топография. Верхнее правое изображение - изображение в режиме фазы.

Нижнее левое изображение - топография 3D. Нижнее правое изображение - топографие и произвольное сечение.

Нижнее изображение - профиль в выбранном сечении.
Фосфид индия (InP) на сапфировой подложке. АСМ изображение. Полу-контактный режим сканирования. Топография. Фосфид индия (InP) на сапфировой подложке. АСМ изображение. Полу-контактный режим сканирования. Изображение в режиме фазы.
Фосфид индия (InP) на сапфировой подложке. АСМ изображение. Полу-контактный режим сканирования. Топография 3D. Фосфид индия (InP) на сапфировой подложке. АСМ изображение. Полу-контактный режим сканирования. Топография и произвольное сечение.
Фосфид индия (InP) на сапфировой подложке. АСМ изображение. Полу-контактный режим сканирования. Профиль в выбранном сечении.

Фосфид индия (InP) на сапфировой подложке. АСМ изображения. Полу-контактный режим сканирования. Изображения получены на сканирующем зондовом микроскопе Certus Standard в режиме атомно-силового микроскопа.

Размер изображений 10х10 μм. 1000х1000 точек.

Верхнее левое изображение - топография. Верхнее правое изображение - изображение в режиме фазы.

Нижнее левое изображение - топография 3D. Нижнее правое изображение - топографие и произвольное сечение.

Нижнее изображение - профиль в выбранном сечении.
Фосфид индия (InP) на сапфировой подложке. АСМ изображение. Полу-контактный режим сканирования. Топография. Фосфид индия (InP) на сапфировой подложке. АСМ изображение. Полу-контактный режим сканирования. Изображение в режиме фазы.
Фосфид индия (InP) на сапфировой подложке. АСМ изображение. Полу-контактный режим сканирования. Топография 3D. Фосфид индия (InP) на сапфировой подложке. АСМ изображение. Полу-контактный режим сканирования. Топография и произвольное сечение.
Фосфид индия (InP) на сапфировой подложке. АСМ изображение. Полу-контактный режим сканирования. Профиль в выбранном сечении.

Фосфид индия (InP) на сапфировой подложке. АСМ изображения. Полу-контактный режим сканирования. Изображения получены на сканирующем зондовом микроскопе Certus Standard в режиме атомно-силового микроскопа.

Размер изображений 5х5 μм. 500х500 точек.

Верхнее левое изображение - топография. Верхнее правое изображение - изображение в режиме фазы.

Нижнее левое изображение - топография 3D. Нижнее правое изображение - топографие и произвольное сечение.

Нижнее изображение - профиль в выбранном сечении.
Фосфид индия (InP) на сапфировой подложке. АСМ изображение. Полу-контактный режим сканирования. Топография. Фосфид индия (InP) на сапфировой подложке. АСМ изображение. Полу-контактный режим сканирования. Изображение в режиме фазы.
Фосфид индия (InP) на сапфировой подложке. АСМ изображение. Полу-контактный режим сканирования. Топография 3D. Фосфид индия (InP) на сапфировой подложке. АСМ изображение. Полу-контактный режим сканирования. Топография и произвольное сечение.
Фосфид индия (InP) на сапфировой подложке. АСМ изображение. Полу-контактный режим сканирования. Профиль в выбранном сечении.

Фосфид индия (InP) на сапфировой подложке. АСМ изображения. Полу-контактный режим сканирования. Изображения получены на сканирующем зондовом микроскопе Certus Standard в режиме атомно-силового микроскопа.

Размер изображений 2.5х2.5 μм. 300х300 точек.

Верхнее левое изображение - топография. Верхнее правое изображение - изображение в режиме фазы.

Нижнее левое изображение - топография 3D. Нижнее правое изображение - топографие и произвольное сечение.

Нижнее изображение - профиль в выбранном сечении.
Фосфид индия (InP) на сапфировой подложке. АСМ изображение. Полу-контактный режим сканирования. Топография. Фосфид индия (InP) на сапфировой подложке. АСМ изображение. Полу-контактный режим сканирования. Изображение в режиме фазы.
Фосфид индия (InP) на сапфировой подложке. АСМ изображение. Полу-контактный режим сканирования. Топография 3D. Фосфид индия (InP) на сапфировой подложке. АСМ изображение. Полу-контактный режим сканирования. Топография и произвольное сечение.
Фосфид индия (InP) на сапфировой подложке. АСМ изображение. Полу-контактный режим сканирования. Профиль в выбранном сечении.

Фосфид индия (InP) на сапфировой подложке. АСМ изображения. Полу-контактный режим сканирования. Изображения получены на сканирующем зондовом микроскопе Certus Standard в режиме атомно-силового микроскопа.

Размер изображений 1.25х1.25 μм. 300х300 точек.

Верхнее левое изображение - топография. Верхнее правое изображение - изображение в режиме фазы.

Нижнее левое изображение - топография 3D. Нижнее правое изображение - топографие и произвольное сечение.

Нижнее изображение - профиль в выбранном сечении.
Фосфид индия (InP) на сапфировой подложке. АСМ изображение. Полу-контактный режим сканирования. Топография. Фосфид индия (InP) на сапфировой подложке. АСМ изображение. Полу-контактный режим сканирования. Изображение в режиме фазы.
Фосфид индия (InP) на сапфировой подложке. АСМ изображение. Полу-контактный режим сканирования. Топография 3D. Фосфид индия (InP) на сапфировой подложке. АСМ изображение. Полу-контактный режим сканирования. Топография и произвольное сечение.
Фосфид индия (InP) на сапфировой подложке. АСМ изображение. Полу-контактный режим сканирования. Профиль в выбранном сечении.

Фосфид индия (InP) на сапфировой подложке. АСМ изображения. Полу-контактный режим сканирования. Изображения получены на сканирующем зондовом микроскопе Certus Standard в режиме атомно-силового микроскопа.

Размер изображений 1х1 μм. 200х200 точек.

Верхнее левое изображение - топография. Верхнее правое изображение - изображение в режиме фазы.

Нижнее левое изображение - топография 3D. Нижнее правое изображение - топографие и произвольное сечение.

Нижнее изображение - профиль в выбранном сечении.
Фосфид индия (InP) на сапфировой подложке. АСМ изображение. Полу-контактный режим сканирования. Топография. Фосфид индия (InP) на сапфировой подложке. АСМ изображение. Полу-контактный режим сканирования. Изображение в режиме фазы.
Фосфид индия (InP) на сапфировой подложке. АСМ изображение. Полу-контактный режим сканирования. Топография 3D. Фосфид индия (InP) на сапфировой подложке. АСМ изображение. Полу-контактный режим сканирования. Топография и произвольное сечение.
Фосфид индия (InP) на сапфировой подложке. АСМ изображение. Полу-контактный режим сканирования. Профиль в выбранном сечении.

Фосфид индия (InP) на сапфировой подложке. АСМ изображения. Полу-контактный режим сканирования. Изображения получены на сканирующем зондовом микроскопе Certus Standard в режиме атомно-силового микроскопа.

Размер изображений 0.5х0.5 μм. 100х100 точек.

Верхнее левое изображение - топография. Верхнее правое изображение - изображение в режиме фазы.

Нижнее левое изображение - топография 3D. Нижнее правое изображение - топографие и произвольное сечение.

Нижнее изображение - профиль в выбранном сечении.

 

Поверхность элемент МЭМС. АСМ изображение. Полу-контактный режим сканирования. Изображение в режиме фазы.

Элементы МЭМС Галерея ДНК и ДНК комплексы

Комплексы ДНК-белок на слюде. АСМ изображение. Полу-контактный режим сканирования. Топография.