Элементы МЭМС

Follow NanoScanTech on Twitter
Элемент МЭМС. АСМ изображение. Полу-контактный режим сканирования. Топография. Элемент МЭМС. АСМ изображение. Полу-контактный режим сканирования. Изображение в режиме фазы.
Элемент МЭМС. АСМ изображение. Полу-контактный режим сканирования. Топография 3D Элемент МЭМС. АСМ изображение. Полу-контактный режим сканирования. Топография и сечение.
Элемент МЭМС. АСМ изображение. Полу-контактный режим сканирования. Профиль в выбранном сечении.

Элемент МЭМС. АСМ изображение. Полу-контактный режим сканирования. Изображение получено на СЗМ Certus Standard в режиме атомно-силового микроскопа.

Размер изображений 90х60 μм, 300х300 точек.

Верхнее левое изображение - топография. Верхнее правое изображение - режим фазы.

Нижнее левое изображение - топография 3D. Нижнее правое изображение - топография и сечение.

Нижнее изображение - профиль в выбранном сечении.

Поверхность элемент МЭМС. АСМ изображение. Полу-контактный режим сканирования. Топография. Поверхность элемент МЭМС. АСМ изображение. Полу-контактный режим сканирования. Топография 3D.
Поверхность элемент МЭМС. АСМ изображение. Полу-контактный режим сканирования. Профиль в выбранном сечении. Поверхность элемент МЭМС. АСМ изображение. Полу-контактный режим сканирования. Топография сечение.

Поверхность элемента МЭМС. АСМ изображение. Полу-контактный режим сканирования. Изображение получено на СЗМ Certus Standard в режиме атомно-силового микроскопа.

Размер изображений 45х50 μм, 880х890 точек.

Верхнее левое изображение - топография. Верхнее правое изображение - топография 3D.

Нижнее левое изображение - профиль в выбранном сечении. Нижнее правое изображение - топография и сечение.

Поверхность элемент МЭМС. АСМ изображение. Полу-контактный режим сканирования. Топография. Поверхность элемент МЭМС. АСМ изображение. Полу-контактный режим сканирования. Топография 3D.
Поверхность элемент МЭМС. АСМ изображение. Полу-контактный режим сканирования. Профиль в выбранном сечении. Поверхность элемент МЭМС. АСМ изображение. Полу-контактный режим сканирования. Топография сечение.

Поверхность элемента МЭМС. АСМ изображение. Полу-контактный режим сканирования. Изображение получено на СЗМ Certus Standard в режиме атомно-силового микроскопа.

Размер изображений 20х20 μм, 400х400 точек.

Верхнее левое изображение - топография. Верхнее правое изображение - топография 3D.

Нижнее левое изображение - профиль в выбранном сечении. Нижнее правое изображение - топография и сечение.

Поверхность элемент МЭМС. АСМ изображение. Полу-контактный режим сканирования. Топография. Поверхность элемент МЭМС. АСМ изображение. Полу-контактный режим сканирования. Изображение в режиме фазы.
Поверхность элемент МЭМС. АСМ изображение. Полу-контактный режим сканирования. Топография 3D. Поверхность элемент МЭМС. АСМ изображение. Полу-контактный режим сканирования. Топография сечение.
Поверхность элемент МЭМС. АСМ изображение. Полу-контактный режим сканирования. Профиль в выбранном сечении.

Поверхность элемента МЭМС. АСМ изображение. Полу-контактный режим сканирования. Изображение получено на СЗМ Certus Standard в режиме атомно-силового микроскопа.

Размер изображений 10х10 μм, 400х400 точек.

Верхнее левое изображение - топография. Верхнее правое изображение - режим фазы.

Нижнее левое изображение - топография 3D. Нижнее правое изображение - топография и сечение.

Нижнее изображение - профиль в выбранном сечении.

Поверхность элемент МЭМС. АСМ изображение. Полу-контактный режим сканирования. Топография. Поверхность элемент МЭМС. АСМ изображение. Полу-контактный режим сканирования. Изображение в режиме фазы.
Поверхность элемент МЭМС. АСМ изображение. Полу-контактный режим сканирования. Топография 3D. Поверхность элемент МЭМС. АСМ изображение. Полу-контактный режим сканирования. Топография сечение.
Поверхность элемент МЭМС. АСМ изображение. Полу-контактный режим сканирования. Профиль в выбранном сечении.

Поверхность элемента МЭМС. АСМ изображение. Полу-контактный режим сканирования. Изображение получено на СЗМ Certus Standard в режиме атомно-силового микроскопа.

Размер изображений 5х5 μм, 400х400 точек.

Верхнее левое изображение - топография. Верхнее правое изображение - режим фазы.

Нижнее левое изображение - топография 3D. Нижнее правое изображение - топография и сечение.

Нижнее изображение - профиль в выбранном сечении.

Поверхность элемент МЭМС. АСМ изображение. Полу-контактный режим сканирования. Топография. Поверхность элемент МЭМС. АСМ изображение. Полу-контактный режим сканирования. Изображение в режиме фазы.
Поверхность элемент МЭМС. АСМ изображение. Полу-контактный режим сканирования. Топография 3D. Поверхность элемент МЭМС. АСМ изображение. Полу-контактный режим сканирования. Топография сечение.
Поверхность элемент МЭМС. АСМ изображение. Полу-контактный режим сканирования. Профиль в выбранном сечении.

Поверхность элемента МЭМС. АСМ изображение. Полу-контактный режим сканирования. Изображение получено на СЗМ Certus Standard в режиме атомно-силового микроскопа.

Размер изображений 15х15 μм, 400х400 точек.

Верхнее левое изображение - топография. Верхнее правое изображение - режим фазы.

Нижнее левое изображение - топография 3D. Нижнее правое изображение - топография и сечение.

Нижнее изображение - профиль в выбранном сечении.

Образцы предоставлены С.А.Жуковой, к.т.н.

 

Нитрид галлия (GaN) на сапфировой подложке. АСМ изображение. Полу-контактный режим сканирования. Изображение в режиме фазы.

Нитрид галлия (GaN) на сапфировой подложке. Галерея Фосфид индия (InP) на сапфировой подложке
h2