Нитрид галлия (GaN) на сапфировой подложке.

Follow NanoScanTech on Twitter
Нитрид галлия (GaN) на сапфировой подложке. АСМ изображение. Полу-контактный режим сканирования. Топография. Нитрид галлия (GaN) на сапфировой подложке. АСМ изображение. Полу-контактный режим сканирования. Изображение в режиме фазы.
Нитрид галлия (GaN) на сапфировой подложке. АСМ изображение. Полу-контактный режим сканирования. Профиль в выбранном сечении. Нитрид галлия (GaN) на сапфировой подложке. АСМ изображение. Полу-контактный режим сканирования. Топография и сечение.

Нитрид галлия (GaN) на сапфировой подложке. АСМ изображения. Полу-контактный режим сканирования. Профиль в выбранном сечении. Изображения получены на сканирующем зондовом микроскопе Certus Standard в режиме атомно-силового микроскопа.

Размер изображений 25х25 μм. 400х400 точек.

Верхнее левое изображение - топография. Верхнее правое изображение - изображение в режиме фазы.

Нижнее левое изображение - профиль в выбранном сечении. Нижнее правое изображение - топографие и сечение.

Нитрид галлия (GaN) на сапфировой подложке. АСМ изображение. Полу-контактный режим сканирования. Топография. Нитрид галлия (GaN) на сапфировой подложке. АСМ изображение. Полу-контактный режим сканирования. Изображение в режиме фазы.
Нитрид галлия (GaN) на сапфировой подложке. АСМ изображение. Полу-контактный режим сканирования. Профиль в выбранном сечении. Нитрид галлия (GaN) на сапфировой подложке. АСМ изображение. Полу-контактный режим сканирования. Топография и сечение.

Нитрид галлия (GaN) на сапфировой подложке. АСМ изображения. Полу-контактный режим сканирования. Профиль в выбранном сечении. Изображения получены на сканирующем зондовом микроскопе Certus Standard в режиме атомно-силового микроскопа.

Размер изображений 10х10 μм. 500х500 точек.

Верхнее левое изображение - топография. Верхнее правое изображение - изображение в режиме фазы.

Нижнее левое изображение - профиль в выбранном сечении. Нижнее правое изображение - топографие и сечение.
Нитрид галлия (GaN) на сапфировой подложке. АСМ изображение. Полу-контактный режим сканирования. Топография. Нитрид галлия (GaN) на сапфировой подложке. АСМ изображение. Полу-контактный режим сканирования. Изображение в режиме фазы.
Нитрид галлия (GaN) на сапфировой подложке. АСМ изображение. Полу-контактный режим сканирования. Профиль в выбранном сечении. Нитрид галлия (GaN) на сапфировой подложке. АСМ изображение. Полу-контактный режим сканирования. Топография и сечение.

Нитрид галлия (GaN) на сапфировой подложке. АСМ изображения. Полу-контактный режим сканирования. Профиль в выбранном сечении. Изображения получены на сканирующем зондовом микроскопе Certus Standard в режиме атомно-силового микроскопа.

Размер изображений 5х5 μм. 300х300 точек.

Верхнее левое изображение - топография. Верхнее правое изображение - изображение в режиме фазы.

Нижнее левое изображение - профиль в выбранном сечении. Нижнее правое изображение - топографие и сечение.
Нитрид галлия (GaN) на сапфировой подложке. АСМ изображение. Полу-контактный режим сканирования. Топография. Нитрид галлия (GaN) на сапфировой подложке. АСМ изображение. Полу-контактный режим сканирования. Изображение в режиме фазы.
Нитрид галлия (GaN) на сапфировой подложке. АСМ изображение. Полу-контактный режим сканирования. Профиль в выбранном сечении. Нитрид галлия (GaN) на сапфировой подложке. АСМ изображение. Полу-контактный режим сканирования. Топография и сечение.

Нитрид галлия (GaN) на сапфировой подложке. АСМ изображения. Полу-контактный режим сканирования. Профиль в выбранном сечении. Изображения получены на сканирующем зондовом микроскопе Certus Standard в режиме атомно-силового микроскопа.

Размер изображений 2,5х2,5 μм. 300х300 точек.

Верхнее левое изображение - топография. Верхнее правое изображение - изображение в режиме фазы.

Нижнее левое изображение - профиль в выбранном сечении. Нижнее правое изображение - топографие и сечение.
Нитрид галлия (GaN) на сапфировой подложке. АСМ изображение. Полу-контактный режим сканирования. Топография. Нитрид галлия (GaN) на сапфировой подложке. АСМ изображение. Полу-контактный режим сканирования. Изображение в режиме фазы.
Нитрид галлия (GaN) на сапфировой подложке. АСМ изображение. Полу-контактный режим сканирования. Профиль в выбранном сечении. Нитрид галлия (GaN) на сапфировой подложке. АСМ изображение. Полу-контактный режим сканирования. Топография и сечение.

Нитрид галлия (GaN) на сапфировой подложке. АСМ изображения. Полу-контактный режим сканирования. Профиль в выбранном сечении. Изображения получены на сканирующем зондовом микроскопе Certus Standard в режиме атомно-силового микроскопа.

Размер изображений 1х1 μм. 200х200 точек.

Верхнее левое изображение - топография. Верхнее правое изображение - изображение в режиме фазы.

Нижнее левое изображение - профиль в выбранном сечении. Нижнее правое изображение - топографие и сечение.
Нитрид галлия (GaN) на сапфировой подложке. АСМ изображение. Полу-контактный режим сканирования. Топография. Нитрид галлия (GaN) на сапфировой подложке. АСМ изображение. Полу-контактный режим сканирования. Изображение в режиме фазы.
Нитрид галлия (GaN) на сапфировой подложке. АСМ изображение. Полу-контактный режим сканирования. Профиль в выбранном сечении. Нитрид галлия (GaN) на сапфировой подложке. АСМ изображение. Полу-контактный режим сканирования. Топография и сечение.

Нитрид галлия (GaN) на сапфировой подложке. АСМ изображения. Полу-контактный режим сканирования. Профиль в выбранном сечении. Изображения получены на сканирующем зондовом микроскопе Certus Standard в режиме атомно-силового микроскопа.

Размер изображений 0,5х0,5 μм. 100х100 точек.

Верхнее левое изображение - топография. Верхнее правое изображение - изображение в режиме фазы.

Нижнее левое изображение - профиль в выбранном сечении. Нижнее правое изображение - топографие и сечение.
Нитрид галлия (GaN) на сапфировой подложке. АСМ изображение. Полу-контактный режим сканирования. Топография. Нитрид галлия (GaN) на сапфировой подложке. АСМ изображение. Полу-контактный режим сканирования. Изображение в режиме фазы.
Нитрид галлия (GaN) на сапфировой подложке. АСМ изображение. Полу-контактный режим сканирования. Профиль в выбранном сечении. Нитрид галлия (GaN) на сапфировой подложке. АСМ изображение. Полу-контактный режим сканирования. Топография и сечение.

Нитрид галлия (GaN) на сапфировой подложке. АСМ изображения. Полу-контактный режим сканирования. Профиль в выбранном сечении. Изображения получены на сканирующем зондовом микроскопе Certus Standard в режиме атомно-силового микроскопа.

Размер изображений 20х20 μм. 400х400 точек.

Верхнее левое изображение - топография. Верхнее правое изображение - изображение в режиме фазы.

Нижнее левое изображение - профиль в выбранном сечении. Нижнее правое изображение - топографие и сечение.
Нитрид галлия (GaN) на сапфировой подложке. АСМ изображение. Полу-контактный режим сканирования. Топография. Нитрид галлия (GaN) на сапфировой подложке. АСМ изображение. Полу-контактный режим сканирования. Изображение в режиме фазы.
Нитрид галлия (GaN) на сапфировой подложке. АСМ изображение. Полу-контактный режим сканирования. Профиль в выбранном сечении. Нитрид галлия (GaN) на сапфировой подложке. АСМ изображение. Полу-контактный режим сканирования. Топография и сечение.

Нитрид галлия (GaN) на сапфировой подложке. АСМ изображения. Полу-контактный режим сканирования. Профиль в выбранном сечении. Изображения получены на сканирующем зондовом микроскопе Certus Standard в режиме атомно-силового микроскопа.

Размер изображений 10х10 μм. 500х500 точек.

Верхнее левое изображение - топография. Верхнее правое изображение - изображение в режиме фазы.

Нижнее левое изображение - профиль в выбранном сечении. Нижнее правое изображение - топографие и сечение.
Нитрид галлия (GaN) на сапфировой подложке. АСМ изображение. Полу-контактный режим сканирования. Топография. Нитрид галлия (GaN) на сапфировой подложке. АСМ изображение. Полу-контактный режим сканирования. Изображение в режиме фазы.
Нитрид галлия (GaN) на сапфировой подложке. АСМ изображение. Полу-контактный режим сканирования. Профиль в выбранном сечении. Нитрид галлия (GaN) на сапфировой подложке. АСМ изображение. Полу-контактный режим сканирования. Топография и сечение.

Нитрид галлия (GaN) на сапфировой подложке. АСМ изображения. Полу-контактный режим сканирования. Профиль в выбранном сечении. Изображения получены на сканирующем зондовом микроскопе Certus Standard в режиме атомно-силового микроскопа.

Размер изображений 5х5 μм. 300х300 точек.

Верхнее левое изображение - топография. Верхнее правое изображение - изображение в режиме фазы.

Нижнее левое изображение - профиль в выбранном сечении. Нижнее правое изображение - топографие и сечение.
Нитрид галлия (GaN) на сапфировой подложке. АСМ изображение. Полу-контактный режим сканирования. Топография. Нитрид галлия (GaN) на сапфировой подложке. АСМ изображение. Полу-контактный режим сканирования. Изображение в режиме фазы.
Нитрид галлия (GaN) на сапфировой подложке. АСМ изображение. Полу-контактный режим сканирования. Профиль в выбранном сечении. Нитрид галлия (GaN) на сапфировой подложке. АСМ изображение. Полу-контактный режим сканирования. Топография и сечение.

Нитрид галлия (GaN) на сапфировой подложке. АСМ изображения. Полу-контактный режим сканирования. Профиль в выбранном сечении. Изображения получены на сканирующем зондовом микроскопе Certus Standard в режиме атомно-силового микроскопа.

Размер изображений 1х1 μм. 200х200 точек.

Верхнее левое изображение - топография. Верхнее правое изображение - изображение в режиме фазы.

Нижнее левое изображение - профиль в выбранном сечении. Нижнее правое изображение - топографие и сечение.

 

Капля клея на стеклянной подложке. АСМ изображение. Полу-контактный режим сканирования. Топография.

Капли клея на стеклянной подложке Галерея Элементы МЭМС 6_h