Латексные микросферы

Follow NanoScanTech on Twitter

Латексные сферы, АСМ изображение. Топография.

Латексные сферы, АСМ изображение. Топография.

Латексные микросферы на поверхности. Изображение получено с помощью сканирующего зондового микроскопа Certus Standard в режиме атомно-силового микроскопа. Полуконтактный режим сканирования. Средний диаметр сфер порядка 94 нм.

Размер верхнего левого изображения 10х10 мкм, 300х300 точек. Топография.

Размер верхнего правого и нижнего изображений 3,5х3,5 мкм, 300х300 точек. Топография и изображение в режиме "фазы".


Латексные сферы, АСМ изображение. Режим "фазы"


Латексные сферы, распределение по размерам частиц. Метод динамического рассеяния света (ДРС).

Распределение по размерам латексных микросфер. Дисперсионная среда - вода. Измерения проводились методом динамического рассеяния света. BIC 90 Plus

Латексные сферы покрытые пленкой воды, АСМ изображение. Топография.

Латексные сферы покрытые пленкой воды, АСМ изображение. Режим "фазы".

Латексные сферы покрытые пленкой воды, АСМ изображение. Топография. Латексные сферы покрытые пленкой воды, АСМ изображение. Режим "фазы".

Латексные микросферы на поверхности, покрытые пленкой воды. Изображение получено с помощью сканирующего зондового микроскопа Certus Standard в режиме атомно-силового микроскопа. Полуконтактный режим сканирования. Средний диаметр сфер порядка 94 нм.

Размер левых изображений 1х1 мкм, 300х300 точек. Топография.

Размер правых изображений 1х1 мкм, 300х300 точек. Изображение в режиме "фазы". Четко видна пленка воды между частицами.

Латексные сферы покрытые пленкой воды, АСМ изображение. Топография. Латексные сферы покрытые пленкой воды, АСМ изображение. Режим "фазы".

Латексные микросферы на поверхности, покрытые пленкой воды. Изображение получено с помощью сканирующего зондового микроскопа Certus Standard в режиме атомно-силового микроскопа. Полуконтактный режим сканирования. Средний диаметр микросфер порядка 94 нм.

Размер изображений 500 нм х 500 нм, 100х100 точек. Топография и изображение в режиме "фазы"

Четко видна пленка воды между частицами.

Латексные сферы, АСМ изображение. Топография. Латексные сферы, АСМ изображение. Сечение.

Латексные микросферы сферы на поверхности, обезвоженный образец. Изображение получено с помощью сканирующего зондового микроскопа Certus Standard в режиме атомно-силового микроскопа. Полуконтактный режим сканирования. Средний диаметр сфер порядка 94 нм.

Размер изображений 1х1 мкм, 300х300 точек. Топография и профиль в выбранном сечении (правое верхнее и правое нижнее изображения, соответственно).

Латексные сферы, профиль сечения АСМ изображения
Некоторые параметры выбранного профиля:
Средняя шероховатость (Ra) 3,44 nm
Среднеквадратичная шероховатость (Rq) 4,21 nm
Максимальная высота шероховатости (Rt) 18,79 nm
Максимальная глубина впадины шероховатости (Rv) 10,15 nm
Максимальная высота пика шероховатости (Rp) 8,64 nm
Средняя максимальная высота шероховатости (Rtm) 12,81 nm
Средняя максимальная глубина долины шероховатости (Rvm) 7,56 nm
Средняя максимальная высота пика шероховатости (Rpm) 5,25 nm
Среднее отношение высоты третьего по высоте пика к глубине третьей по глубине впадины (R3z) 12,32 nm
Среднее отношение высоты третьего по высоте пика к глубине третьей по глубине впадины (R3z ISO) 0,00 nm
Средняя максимальная высота профиля (Rz) 10,84 nm
Средняя максимальная высота шероховатости (Rz ISO) 12,81 nm
Коэффициент асимметрии (Rsk) -0,376
Эксцесс (Rku) 2,567
Средняя волнистость (Wa) 4,01 nm
Среднеквадратичная волнистость (Wq) 4,61 nm
Максимальная высота волнистости (Wy=Wmax) 14,42 nm
Максимальная высота профиля (Pt) 26,27 nm

Латексные полимерные системы используются для создания латексных красок и полимерных пленочных покрытий различных материалов. Как правило, их получают по следующей схеме:

  1. Распыление дисперсии латексных частиц по поверхности материала или погружение поверхности, обработанной коагулянтом, в латексную дисперсию;
  2. Удаление растворителя;
  3. Термическое уплотнение пленок.

Некоторые важные свойства таких пленок можно изучить с помощью сканирующего зондового микроскопа в режиме атомно-силового микроскопа. Например, шероховатость поверхности, пористость, упорядоченность структуры и, соответственно, связь этих параметров с другими.  Это необходимо для полного понимания процесса формирования латексных пленок и подбора состава коллоидных систем и соответствующих параметров осаждения частиц на поверхность.

Атомно-силовой микроскоп позволяет получать изображения латексных пленок с высоким разрешением. При этом не требуется сложная пробоподготовка. АСМ позволяет исследовать непосредственно рабочие образцы таких пленок на поверхности материалов. Для лабораторных исследования пленки формируют на поверхности плоских образцов, таких как слюда, графит, предметные и покровные стекла.

Одно из перспективных направлений использования латексных полимерных систем - фотонные кристаллы. Для изучения подобных материалов (или иногда метаматериалов) используют несколько методов анализа, в том числе и сканирующие зондовые микроскопы.

 

Капли коллагена на   подложке. АСМ изображение. Режим "Фазы".

Статья  "Капли коллагена" Галерея Статья "Травление полимеров плазмой"
40_1